Hobara N., Sato Y., Honjo S., Takahashi Y.(takahashi.yoshihisa@tepco.co.jp), Muranaka K.(muranaka-koji@sei.co.jp), Fujino K.(fujino-koso@)sei.co.jp), Hahakura S.(hahakura-shuji@sei.co.jp), Taneda T.Taneda-akahiro@sei.co.jp), Ohmatsu K., Takei H.(takei-hiromi@sei.co.jp)
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, ISD process, substrate Ni alloy, Jc/B curves, anisotropy, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Gnanarajan S.(Rajan.Gnanarajan@csiro.au)
Marken K.R., King A.C., Shoup S.S.(sshoup@microcoating.com), White M.K., Krebs S.L., Mattox D.M., Polley T., Darnell N., Hong S., Czabaj B.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, buffer layers, template layers, IBAD process, substrate metallic, fabrication, critical current, critical caracteristics
Goyal A., Paranthaman M.P., Cantoni C., Martin P.M., Christen H.M., Sathyamurthy S.(sathyamurths@ornl.gov), Zhai H-Y, Kung S.
Aytug T., Paranthaman M., Kang S., Zhai H.Y., Leonard K.J., Vallet C.E., Sathyamurthy S., Christen H.M., Goyal A., Christen D.K.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.